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光功率计OPM572MD

品牌:日本三和SANWA

仪器简介

光功率计OPM572MD

仪器详情

光功率计OPM572MD


带护套,可测量波长:610-640nm, 650-690nm
760-830nm, 760-830nm for MD
He-Ne、半导体激光,微型碟式(MD)用
采用杆式探头和微型碟式(MD探头
不用电源电池
可监视光波形
IR光束目视确认探头(杆式探头


■ Direct reading wavelength
■ Sensor for MD (Mini Disk) attached
IR-beam visual check sensor
■ Output terminal for optical wave monitoring